Digital instrument предоставляет аппаратные и программные функции, необходимые для разработки более интеллектуальных полупроводниковых тестовых систем.

Компания NI анонсировала NI PXIe-6570 digital pattern instrument и NI Digital Pattern Editor. Этот продукт освобождает производителей радиочастотных устройств, микросхем управления питанием, MEMS-устройств и микросхем со смешанным сигналом от замкнутой архитектуры обычного полупроводникового автоматизированного испытательного оборудования.

Требования, предъявляемые к новейшим полупроводниковым устройствам, часто превосходят возможности тестирования, предоставляемые традиционными ATE. Перенося парадигму цифрового тестирования, сложившуюся в полупроводниковой промышленности, на открытую платформу PXI, используемую в полупроводниковых тестовых системах, и дополняя ее мощным и удобным редактором шаблонов и отладчиком, заказчики могут воспользоваться преимуществами передовых приборов PXI, которые помогут снизить затраты на тестирование и увеличить пропускную способность для радиочастотных и аналоговых сигналов.-ориентированные микросхемы.

“Прибор PXI Digital Pattern Instrument является важным дополнением к STS, поскольку он предоставляет инженерам-полупроводникам все цифровые возможности, которые они в противном случае ожидали бы найти только в цифровых тестовых платформах высокого класса”, — сказал Рон Вулф, вице-президент NI по тестированию полупроводников. — Благодаря этой возможности в PXI на производстве они могут соответствовать ценовым параметрам и требованиям к тестированию ультрасовременных устройств, легко масштабируясь при этом на другие разделы своих каталогов”.

Прибор NI PXIe-6570 digital pattern instrument обеспечивает необходимые возможности тестирования микросхем, обычно используемых в цепочке поставок беспроводных устройств и устройств Интернета вещей, по экономичной цене за вывод. Он обеспечивает выполнение схемы со скоростью 100 мВ/с с независимыми источниками и механизмами захвата, а также параметрическими функциями напряжения /тока на 256 синхронизированных цифровых выводах в одной подсистеме. Пользователи могут воспользоваться преимуществами открытости PXI и STS, чтобы добавить столько или меньшее количество устройств, сколько им необходимо для соответствия PIN-коду устройства и количеству сайтов, требуемым в тестовой конфигурации.

Новое программное обеспечение Digital Pattern Editor объединяет среды редактирования карт pin-кодов устройств, спецификаций и шаблонов для более быстрой разработки планов тестирования; встроенные инструменты, такие как multisite и multi-instrument pattern bursting, для плавного перехода от разработки к производству; и такие инструменты, как shmoo plots и интерактивное представление pin-кода для более эффективной отладки и оптимизации тестов..

Выполнение характеристических и производственных тестов с использованием одного и того же оборудования PXI и программного обеспечения TestStand, LabVIEW и Digital Pattern Editor снижает затраты на сопоставление данных, что может помочь пользователям сократить время выхода на рынок. Небольшие габариты оборудования PXI, как внутри, так и снаружи конфигурации STS, экономят место на производственном этаже и могут работать от стандартного настенного питания на лабораторном стенде для определения характеристик.

“PXI зарекомендовал себя как редкое сочетание аппаратного и программного обеспечения, позволяющее успешно ориентироваться как в производственном цехе, так и в лаборатории определения характеристик”, — продолжил Вулф. “NI digital pattern instrument и Digital Pattern Editor представляют собой важные инновации, которые помогают производителям устройств и испытательным центрам снизить стоимость тестирования и улучшить разработку тестовых программ”.

В дополнение к готовой к производству серии STS, приемопередатчикам векторных сигналов с полосой пропускания 1 ГГц, измерительным устройствам класса fA и полупроводниковому модулю TestStand, в этих системах используется более 600 продуктов PXI в диапазоне от постоянного тока до миллиметровых волн. Они обеспечивают передачу данных с высокой пропускной способностью с использованием интерфейсов шины PCI Express поколения 3 и субнаносекундную синхронизацию со встроенной синхронизацией по времени и запуском. Пользователи могут воспользоваться производительностью программных сред LabVIEW и TestStand, а также динамичной экосистемой партнеров, инженеров по IP-технологиям и прикладным программам, чтобы снизить стоимость тестирования, сократить время выхода на рынок и подготовить будущих тестировщиков для завтрашних сложных испытаний ВЧ и смешанных сигналов.

Национальные инструменты
www.ni.com